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芯片封装脱泡工艺新突破:0.1μm 级气泡控制技术革新
2025-05-20

在半导体制造领域,芯片封装的工艺精度直接影响产品性能和可靠性。其中,封装材料中的微小气泡问题一直是行业亟待攻克的技术难点。近期,0.1μm级气泡控制技术的突破,为芯片封装工艺带来了重要革新。

 




 

一、气泡问题:芯片行业不可忽视的挑战

在芯片封装过程中,环氧树脂、底部填充胶等材料若残留气泡,可能引发多重问题:

可靠性风险:高温环境下气泡膨胀,可能导致封装层分离或应力集中,影响器件寿命;

性能干扰:导电胶中的气泡会增加接触电阻,导致电流分布不均,影响芯片能效;

良率瓶颈:在高端封装(如3D IC、先进封装)中,气泡问题可能导致良率下降,增加生产成本。

行业数据显示,部分封装产线因气泡问题导致的返工率可达5%以上,成为制约产品一致性的关键因素。

 

 

二、技术突破:0.1μm级气泡控制的创新方案

面对气泡带来的诸多严峻挑战,世豪的研发团队和工程师们从未停止探索的脚步。0.1μm 气泡控制技术采用了一系列先进的物理和化学方法,并通过巧妙的系统集成,实现了对微小气泡的精准捕捉和高效去除。

脱泡机.jpg

物理场协同作用采用超高真空环境结合离心力场,促进气泡高效析出与迁移;实测数据表明,硅油类材料的气泡残留量可降低至0.008%以下。

智能动态调节基于PID算法实时优化真空曲线,避免传统工艺中的材料沸腾现象;某封装企业应用后,电子灌封胶的气泡含量从1.2%降至0.008%,良率提升显著。

材料适配优化开发专用添加剂,调节材料表面张力与流动性,减少气泡滞留风险。

实时监测集成高精度传感器与算法,动态调整工艺参数,确保稳定性与一致性。

 

一、行业价值:赋能先进制造与产业升级

0.1μm 气泡控制技术的突破,为芯片封装脱泡工艺带来了前所未有的变革。它不仅有效解决了长期困扰行业的气泡难题,提升了芯片的质量和性能,还为芯片制造行业的未来发展开辟了广阔的空间。

这一技术的应用,为半导体行业带来多重效益:

 

提升良率与效率:减少气泡导致的返工和报废,降低生产成本;

增强产品可靠性:满足汽车电子、工业控制等严苛场景的需求;

支持先进工艺:适配3D IC、高密度封装等前沿技术,推动行业持续创新。

 

从行业发展趋势来看,随着芯片制程不断向 3nm 及以下的先进工艺演进,芯片封装的复杂度和对材料精度的要求也在持续攀升。0.1μm 气泡控制技术的出现,恰好满足了这一发展趋势的需求,为先进半导体制造提供了关键支撑。它不仅推动了芯片封装技术的升级,还将带动整个芯片制造产业链的协同发展